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簡易分光エリプソメーター SE-1000
分光エリプソメーターは、薄膜の膜厚値、光学特性(屈折率、消衰係数)を高精度に測定します。絶縁膜、有機膜、金属膜などの単層膜や多層膜の測定が出来、また表面ラフネス層や界面層の評価も可能です。エリプソメトリーの測定原理が不明な方でも問題なくご使用頂けます。
分光エリプソメーター SE-2000 (回転補償子型)
SE-2000は、研究開発用途の分光エリプソメーターです。深紫外から近赤外領域の波長範囲で、単層膜から多層膜までの膜厚測定、光学定数(屈折率、消衰係数)を精度良く測定します。
インライン分光エリプソメーター µSE-2300
μSE-2500は、300mmウェハ専用の全自動分光エリプソメーターです。パターン認識機能を有し、半導体製造プロセスで成膜管理にご使用いただいています。
インライン分光エリプソメーター μSE-3000 / SE-3000
SE-3000は、デュアルFOUPタイプの全自動分光エリプソメーターです。半導体製造プロセスで、成膜管理検査にご使用いただいています。