μPCD キャリアライフタイム測定装置 WT-2000PVN

WT-2000PVN

WT-2000PVNは、太陽電池、ウェハー、ブロックの幅広い測定が可能な卓上型測定システムです。ベースシステムには間接機能が備えられており、下記のオプションから選択することで、実際のニーズに応じて測定機能を構成できます。

WT-2000PVNは、ウェハーとセルのみでなく、ブロックとインゴットも測定できます。ウェハーやセルを測定する場合、マップを作成するのが一般的です。また、ブロックやインゴットを測定する場合は、時間を節約するためにラインスキャンのみを作成することが一般的ですが、WT-2000PVNはこの両方を実行できます。

ほとんどの太陽電池メーカーはWT-2000PVNを所有しています。このシステムが特に役立つのは次の領域です。

  • 技術開発と特性評価
  • 製造の一括試験
  • 製造問題の包括的なトラブルシューティング

WT-2000PVNに統合できる測定法:

  • µ-PCD/キャリア・ライフタイム
    • 測定されるパラメータ:キャリア・ライフタイム
    • 高分解能マッピング&離散点測定
    • レーザー波長:904nm
  • SHR/シート抵抗
    • 測定されるパラメータ:エミッターシート抵抗
    • マッピング&離散点測定
  • LBIC/光起電力応答、量子効率、拡散長
    • 1~4本のレーザーを用いた高分解能マッピング
    • 測定されるパラメータ:
      短絡電流
      直接&散乱反射率
      IQE、EQE
      拡散長
  • 渦電流抵抗率
    • 非接触抵抗率マッピング
    • 抵抗率範囲の異なる複数のプローブ
  • µ-PCD用バイアス光
お問い合わせ
アプリケーション・テクノロジー情報

お問い合わせ

ご質問・ご相談はこちら

TEL 045-620-7960

日本セミラボ株式会社株式会社

〒222-0033
神奈川県横浜市港北区新横浜2-15-10
YS新横浜ビル6階
TEL: 045-620-7960(代表) FAX: 045-476-2146

セミラボグループ
セミラボグループロゴ
Semilab AMSロゴ
Semilab QC ロゴ
Semilab SDI ロゴ
Semilab Sopra ロゴ
Semilab SSM ロゴ