SiCイオン注入・ドーズ量モニター PMR-2300C

PMR(Photo Modulated Reflectivity Measurement)は、アニール前のイオン注入のドーズ量モニターを可能とする技術です。
非接触・非破壊にてインプラ工程のインライン管理を可能とします。
PMRテクニックでは、波長の異なる2つのレーザー光源(励起レーザーとプローブレーザー)を使用しています。 変調された励起レーザーをイオン注入されたSiCに照射し、プローブレーザーにより反射波の変化を取得します。
これがPMR信号となり、イオン注入によるダメージとキャリア濃度の変化に対応します。

特徴:

  • 非接触・非破壊測定
  • アズインプラでSiCウェーハを測定可能
  • Si代替では難しいイオン種の管理も可能
  • ドーズ量、エネルギー量等の管理
  • チャネリングの管理にも対応可能

主な測定・評価項目:

  • SiCウェーハのインプラのドーズ量モニタリング
  • 高ドーズ、低ドーズ、高エネルギー域に高感度。
お問い合わせ
アプリケーション・テクノロジー情報

お問い合わせ

ご質問・ご相談はこちら

TEL 045-620-7960

日本セミラボ株式会社

〒222-0033
神奈川県横浜市港北区新横浜2-15-10
YS新横浜ビル6階
TEL: 045-620-7960(代表) FAX: 045-476-2146

セミラボグループ
セミラボグループロゴ
Semilab AMSロゴ
Semilab QC ロゴ
Semilab SDI ロゴ
Semilab Sopra ロゴ
Semilab SSM ロゴ