ライフタイム&抵抗率測定装置 WT-1200i

WT-1200i

WT-1200iは、渦電流検出フォトコンダクタンス減衰(e-PCD)に基づいてバルクライフタイムの単一ポイント測定を行う非接触のハンドヘルド装置であり、単結晶のインゴットと小片の金属汚染(コンタミネーション)検出を行うために特別に開発されました。表面がパッシベートされたサンプルにおいて、μ-PCDとの高い相関性があります。また、単純な構成のため、管理が容易です。

アプリケーション:

  • プロセスのモニタリングと原料の特性評価を目的とした単結晶のインゴットと小片用の非接触バルクライフタイム&抵抗率測定
  • 単一ポイント測定に適している
  • 表面パッシベーションと校正が不要なバルクライフタイム測定

オプション:

  • 製造ラインに応じて柔軟に変更できるプラットフォーム
  • 渦電流抵抗率測定

ソフトウェアの特長:

  • データと画像は他のWindowsアプリケーションで簡単に交換可能
  • 複数のデータファイルを同時に操作
  • 測定中にデータを自動評価
  • ローカル/リモートデータベースサーバーに対応(ODBC)
  • インゴットIDの自動/手動記録、光センサー信号の取得などの通信が可能
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