非接触・非破壊にて様々なウェーハ(SiC, Si, 他)のエッジ形状等の高精度な測定が可能です。
特徴:
- 非接触・非破壊測定
- SiC、Si等の測定が可能です。
- エッジ形状、直径、OF/ノッチ形状等
- 複雑なエッジ形状にも対応可能です。
- カスタマイズにも対応いたします。
- SEMI Standard準拠
EdgeprofilefromSemiStandard
NotchProfile
非接触・非破壊にて様々なウェーハ(SiC, Si, 他)のエッジ形状等の高精度な測定が可能です。
特徴:
EdgeprofilefromSemiStandard
NotchProfile