太陽電池      薄膜太陽電池パネル測定装置 PT-5

薄膜太陽電池パネル測定装置 PT-5

概要

薄膜太陽電池パネル測定装置PT-5は、分光エリプソメータなど太陽電池で必要な様々な測定のマッピング測定が可能です。

・分光エリプソメトリー(膜厚、屈折率、消衰係数)
・TCOシート抵抗測定
・ヘイズ率測定
・透過率測定
・4探針プローブ
・ライフタイム測定

※オートローディングも対応可能です。

微結晶シリコン(タンデム構造)

・a_Si, μc-Si, TCO膜厚測定
・μc_Si 結晶化度測定
・ μc_Si, a_Si 比抵抗測定
・TCO膜シート抵抗測定
・ ヘイズコントロール
・ ライフタイム測定(μPCD法)
・ ラマン分光

CIGS

・CIGS , CdS, TCO膜厚測定と誘電体膜厚測定? TCO膜シート抵抗測定
・CIGS 結晶化度と組成比
・ライフタイム測定(μPCD法)
・CIGSシート抵抗測定(JPV)
・LBIC , IQE(内部量子効率)
・フォトルミネッサンス
・エレクトロルミネッサンス

アモルファスシリコン

・a_Si, TCO膜厚測定
・a_Si 比抵抗測定
・TCO膜シート抵抗測定

有機太陽電池

・活性層、Pedot、TCO膜厚測定
・ 濃度測定

薄膜太陽電池パネル測定装置 PT-5
微結晶シリコン(タンデム構造)
薄膜太陽電池パネル測定装置 PT-5
CIGS
薄膜太陽電池パネル測定装置 PT-5
アモルファスシリコン
薄膜太陽電池パネル測定装置 PT-5
有機太陽電池
薄膜太陽電池パネル測定装置 PT-5
CdTe