半導体      PN判定器 PN-100

PN判定器 PN-100 - 半導体

概要

PN判定器 PN-100は、半導体材料を非接触/非破壊にてP/Nタイプ判定いたします。

測定対象物

- 単結晶/多結晶のシリコンブロック
- ウェハー(ベア、酸化膜)

装置仕様

- 測定時間: 0.5秒

- 判定表示: LED

- 測定スポット: 10-20mm

- 励起深さ: 5μm

- バッテリー寿命: アルカリ単4電池にて最大10,000回判定可能

- 測定距離は、抵抗値と表面状態に依存します (例: エッチングされた表面(10Ωcm)の場合、20mm

PN判定器 PN-100 - 半導体