LCD 製品一覧

  • 分光エリプソメーター SE-2000
  • 分光エリプソメーター SE-2000
    分光エリプソメーターSE-2000は、高精度測定かつ高速測定を実現した装置です。深紫外から近赤外領域までの広い波長領域を僅か数秒で測定して頂けます。 幅広い波長範囲と豊富なデータベースにより、様々なアプリケーションにおける膜厚値、光学特性(屈性率N、消衰係数K)の測定に貢献いたします。
  • 分光エリプソメーター GES5E
    新製品 分光エリプソメーター SE-2000 分光エリプソメーターのパイオニア 仏SOPRA社の技術を継承し、SEMILAB社として製品をご提供しています。 分光エリプソメータ業界屈指の実績があり、研究開発からインライン生産品質管理など様々な用途でご使用を頂いています。
  • ロールツーロール 分光エリプソメーター R2R
    ロールツーロール(Roll to Roll/ロールtoロール) 生産工程で、薄膜フィルムの膜厚と光学定数(屈折率、消衰係数)の測定・検査を行います。QCモニタリングにて多くの実績があります。
  • 非接触CV測定装置 ACV-2500/3000
    非接触CV測定装置ACV-2500/3000では、ウェハがP型の場合にはプローブへ強電界として正の電極、N型の場合は負の電極を与える事で空乏層を伸ばす原理を利用しています。 この空乏層の伸びからキャリア濃度を算出し、ASTM・F723を使用して比抵抗へ変換させます。 ACVはガードと呼ばれる電極をプローブの周囲に張り巡らせ、印可電圧とは逆の電界を印可する事により、少数キャリアの侵入を防ぎます。これにより、正確なプロファイル測定を可能にしています。
  • 薄膜パネル検査装置 分光エリプソメーター SE-2100シリーズ
    分光エリプソメーターSE-2100シリーズは、有機ELや太陽電池、フラットパネルディスプレイの膜厚や光学特性の評価に最適。自動高さ調整センサーにより、高速マッピング測定が可能です。