その他 製品一覧

  • 分光エリプソメーター SE-2000
    分光エリプソメーターSE-2000は、高精度測定かつ高速測定を実現した装置です。深紫外から近赤外領域までの広い波長領域を僅か数秒で測定して頂けます。 幅広い波長範囲と豊富なデータベースにより、様々なアプリケーションにおける膜厚値、光学特性(屈性率N、消衰係数K)の測定に貢献いたします。
  • 薄膜パネル検査装置 分光エリプソメーター SE-2100シリーズ
    分光エリプソメーターSE-2100シリーズは、有機ELや太陽電池、フラットパネルディスプレイの膜厚や光学特性の評価に最適。自動高さ調整センサーにより、高速マッピング測定が可能です。
  • 薄膜膜厚・ヤング率測定装置 SW3300
    非接触、非破壊でウェハー基板上の薄膜膜厚、膜のヤング率、 ポアソン比を測定することができる。